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中国赛西-环宇KGD检测中心成立发布会
中国赛西-环宇KGD检测中心成立发布会

暨第九届环宇芯片技术研讨会


2013年8月18日,中国电子技术标准化研究院(电子四院)与环宇企业集团就联合建成的中国赛西-环宇KGD检测中心在北京兴基伯尔曼饭店举行了发布会。 



中国电子技术标准化研究院宣布了"中国赛西-环宇KGD检测中心"的成立,并对KGD质量和可靠性保障提出了系列指导性标准规划,同时组织与会人员参观了KGD裸芯片的操作流程。 



我们特邀请了相关领导、行业专家以及世界著名半导体厂商、资深专家、技术骨干参与,就"HIC和MCM中裸芯片的质量和可靠性保障"、"国内外KGD技术"等用户关注的热点问题进行了研讨,旨在推动裸芯片在性能、质量、可靠性指标上有新起点、新标准,整体提升半导体产品质量,共同推进半导体行业规范、稳健、快速地向前发展。 



聚集了半导体技术专家、科研单位、军工厂(所)技术骨干,探讨了半导体KGD祼芯片的质量及可靠性保障,为军工科研单位交流互动创造了平台!